?!DOCTYPE html PUBLIC "-//W3C//DTD XHTML 1.0 Transitional//EN" "http://www.w3.org/TR/xhtml1/DTD/xhtml1-transitional.dtd">
2Q选择合适测量治兗测量治具也是LCR试仪的重要l成部分Q对于封装方式多样化的元器gQLCR也有多种量d选择?/p>
3Q正的零点校正。LCR试仪的零点漂移?x)随着试条g的变换或者是试d的不同而生改变lcrQ?a target="_blank" href="http://www.choutuxie.cn/news/200.html">lcr试仪用前要注意哪?/a>所以开路以?qing)短路的零点校正非常必要。所以LCR试仪都有开路和短\校正的设|?/p>
Ƣ迎(zhn)阅?/span>Q?/span>
1._的陶L(fng)(sh)Ҏ(gu)?/p> 1kHz?MHz是陶h料和?sh)容器的主要试频率。陶L(fng)(sh)容器h低损耗值的特征Q同时其定w、损耗施加之交流信号?x)生明昄变化。A器具有宽频测试能力ƈ可提供良好的准确度,六位分L率和自动?sh)^控制QALCQ功能等Q中以满陶h料和?sh)容器可靠、准的试需要?/p> 2.液晶单元的电(sh)容特性测?/p> ?sh)容Q电(sh)压(CQVac)Ҏ(gu)是评h(hun)液晶材料性能的主要方法,常规仪器量液晶单元的CQVacҎ(gu)遇C个问题是******试?sh)压不够。用扩展测量选g可提供分辨率?%?qing)最高达20Vms的可~程试信号?sh)^Q它能?*****条g下进行液晶材料的?sh)容?gu)测量。 3.半导体材料和元g的测?/p> q行MOS型半g刉工hQ需要氧化层?sh)容和衬底杂质密度这些参敎ͼq些可从CQVdcҎ(gu)的量l果推导出来。通过提供的直源Q结合各U扫描功能,可以方便地完成C-VDCҎ(gu)的量。ؓ(f)?jin)测试晶圆上的半g器gQ需要g伸电(sh)~和探头QA器的1m/2m/4m延늼选g可将늼延的误差降x(chng)?/p> 4.各种二极、三极管、MOS的分布?sh)容也是本A器的试内容?/p> 从上面我们可以看出LCR数字甉|的适用范围相当q泛QLCR数字甉|使用内部/外部直流偏置Q结合各U扫描测试功能,可以_地分析磁性材料、电(sh)感器件的性能。值得一提的是如今的数字甉|多参数同时显C可满复杂元g各种分布参数的全面观察与评估要求Q而不必反复切换测量参敎ͼ
相关标签Q?a href='/key.aspx?k=%e6%b5%8b%e8%af%95'>试,量,?sh)?/a>,LCR,1.,
SC251X型直低?sh)阻试?/p>
SC2515型热敏电(sh)L试A